Vui lòng dùng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu này: http://thuvienso.vanlanguni.edu.vn/handle/Vanlang_TV/18190
Nhan đề: Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science
Tác giả: Williams, David B.
Carter, C. Barry
Từ khoá: Microscopy
Kính hiển vi
Nanotechnology
Materials science
Nuclear physics
Năm xuất bản: 1996
Nhà xuất bản: Springer
Tóm tắt: A typical commercial transmission electron microscope (TEM) costs about $2 for each electron volt of energy in the beam, and if you add on all the options, it can cost about $4–5 per eV. As you’ll see, we use beam energies in the range from 100,000–400,000 eV, so a TEM becomes an extremely expensive piece of equipment. Consequently, there have to be very sound scientific reasons for investing such a large amount of money in one microscope. In this chapter (which is just a brief overview of many of the concepts that we’ll talk about in detail throughout the book) we start by introducing you to some of the historical development of the TEM because the history is intertwined with some of the reasons why you need to use a TEM to characterize materials. Other reasons for using TEM appeared as the instrument developed. Unfortunately, coupled with the advantages are some serious drawbacks, which limit the microscope performance, and you must be just as aware of the instrument’s limitations as you are of its advantages, so we summarize these also.
Định danh: http://thuvienso.vanlanguni.edu.vn/handle/Vanlang_TV/18190
ISSN: 9781475725193
Bộ sưu tập: TLCK_Ebook_Khoa học Tự nhiên

Các tập tin trong tài liệu này:
Tập tin Mô tả Kích thước Định dạng  
SA6786_1.TransmissionElectronMicroscopy_cover.pdf
  Giới hạn truy cập
cover1.12 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_2.TransmissionElectronMicroscopy_Preface.pdf
  Giới hạn truy cập
Preface971.82 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_3.TransmissionElectronMicroscopy_Contents.pdf
  Giới hạn truy cập
Contents1.38 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_4.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 1.pdf
  Giới hạn truy cập
T e ransmiss·on Electron Microscope2.63 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_5.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 2.pdf
  Giới hạn truy cập
Scattering and Diffraction2.39 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_6.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 3.pdf
  Giới hạn truy cập
Elastic Scattering1.93 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_7.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 4.pdf
  Giới hạn truy cập
Inelastic Scattering and Beam Damage2.92 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_8.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 5.pdf
  Giới hạn truy cập
Electron Sources2.8 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_9.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 6.pdf
  Giới hạn truy cập
Lenses, Apertures, and Resolution3.6 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_10.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 7.pdf
  Giới hạn truy cập
How to "See" Electrons1.74 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_11.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 8.pdf
  Giới hạn truy cập
Pumps and Holders2.21 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_12.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 9.pdf
  Giới hạn truy cập
The I nstru ment4.18 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_13.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 10.pdf
  Giới hạn truy cập
Specimen Preparation3.1 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_14.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 11.pdf
  Giới hạn truy cập
Diffraction Patterns1.9 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_15.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 12.pdf
  Giới hạn truy cập
Thinking in Reciprocal Space1.47 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_16.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 13.pdf
  Giới hạn truy cập
Diffracted Beams1.87 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_17.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 14.pdf
  Giới hạn truy cập
Bloch Waves1.23 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_18.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 15.pdf
  Giới hạn truy cập
Dispersion Surfaces1.62 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_19.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 16.pdf
  Giới hạn truy cập
Diffraction from Crystals1.85 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_20.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 17.pdf
  Giới hạn truy cập
Diffraction from Small Volumes1.96 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_21.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 18.pdf
  Giới hạn truy cập
Indexing Diffraction Patterns3.54 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_22.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 19.pdf
  Giới hạn truy cập
Kikuchi Diffraction1.5 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_23.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 20.pdf
  Giới hạn truy cập
Obtaining CBED Patterns2.96 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_24.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 21.pdf
  Giới hạn truy cập
Using Convergent-Beam Techniques4.22 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_25.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 22.pdf
  Giới hạn truy cập
Imaging in theTEM3.33 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_26.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 23.pdf
  Giới hạn truy cập
Thickness and Bending Effects1.95 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_27.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 24.pdf
  Giới hạn truy cập
Planar Defects3.33 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_28.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 25.pdf
  Giới hạn truy cập
Strain Fields3.52 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_29.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 26.pdf
  Giới hạn truy cập
Weak-Beam Dark-Field Microscopy3.12 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_30.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 27.pdf
  Giới hạn truy cập
Phase-Contrast Images3.38 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_31.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 28.pdf
  Giới hạn truy cập
High-Resolution TEM4.37 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_32.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 29.pdf
  Giới hạn truy cập
Image Simulation2.6 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_33.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 30.pdf
  Giới hạn truy cập
Quantifyi ng and Processing HRTEM Images5.42 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_34.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 31.pdf
  Giới hạn truy cập
Other Imaging Techniques3.98 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_35.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 32.pdf
  Giới hạn truy cập
X-ray Spectrometry3.54 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_36.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 33.pdf
  Giới hạn truy cập
The XEDS-TEM Interface2.08 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_37.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 34.pdf
  Giới hạn truy cập
Qualitative X-ray Analysis1.3 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_38.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 35.pdf
  Giới hạn truy cập
Quantitative X-ray Microanalysis3.83 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_39.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 36.pdf
  Giới hạn truy cập
Spatial Resol ution and Minimum Detectabil ity2.3 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_40.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 37.pdf
  Giới hạn truy cập
Electron Energy-Loss Spectrometers2.65 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_41.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 38.pdf
  Giới hạn truy cập
The Energy-Loss Spectrum2.06 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_42.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 39.pdf
  Giới hạn truy cập
Microanalysis with Ionization-Loss Electrons3.07 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_43.TransmissionElectronMicroscopy_Chapter 40.pdf
  Giới hạn truy cập
Everything Else in the Spectrum3.01 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
SA6786_44.TransmissionElectronMicroscopy_Index.pdf
  Giới hạn truy cập
Index3.77 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu


Khi sử dụng các tài liệu trong Thư viện số phải tuân thủ Luật bản quyền.