Vui lòng dùng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu này: http://thuvienso.vanlanguni.edu.vn/handle/Vanlang_TV/10694
Nhan đề: ESD Testing: From Components to Systems
Tác giả: Voldman, Steven H.
Từ khoá: Electric discharges--Detection
Electric discharges--Measurement
Electronic apparatus and appliances--Testing
Năm xuất bản: 2016
Nhà xuất bản: John Wiley & Sons,
Tóm tắt: "With the evolution of semiconductor technology and global diversification of the semiconductor business, testing of semiconductor devices to systems for electrostatic discharge (ESD) and electrical overstress (EOS) has increased in importance. ESD Testing: From Components to Systems updates the reader in the new tests, test models, and techniques in the characterization of semiconductor components for ESD, EOS, and latchup. Key features: Provides understanding and knowledge of ESD models and specifications including human body model (HBM), machine model (MM), charged device model (CDM), charged board model (CBM), cable discharge events (CDE), human metal model (HMM), IEC 61000-4-2 and IEC 61000-4-5. Discusses new testing methodologies such as transmission line pulse (TLP), to very fast transmission line pulse (VF-TLP), and future methods of long pulse TLP, to ultra-fast TLP (UF-TLP). Describes both conventional testing and new testing techniques for both chip and system level evaluation. Addresses EOS testing, electromagnetic compatibility (EMC) scanning, to current reconstruction methods. Discusses latchup characterization and testing methodologies for evaluation of semiconductor technology to product testing. ESD Testing: From Components to Systems is part of the authors’ series of books on electrostatic discharge (ESD) protection; this book will be an invaluable reference for the professional semiconductor chip and system-level ESD and EOS test engineer. Semiconductor device and process development, circuit designers, quality, reliability and failure analysis engineers will also find it an essential reference. In addition, its academic treatment will appeal to both senior and graduate students with interests in semiconductor process, device physics, semiconductor testing and experimental work."
Định danh: http://thuvienso.vanlanguni.edu.vn/handle/Vanlang_TV/10694
ISBN: 9780470511916
9781118707128 (e)
Bộ sưu tập: Kỹ thuật_Wiley_Sách

Các tập tin trong tài liệu này:
Tập tin Mô tả Kích thước Định dạng  
1_SA3877_ESD TESTING_Cover.pdf
  Giới hạn truy cập
Cover56.99 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
2_SA3877_ESD TESTING_Contents.pdf
  Giới hạn truy cập
Contents54.39 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
3_SA3877_ESD TESTING_About the Author.pdf
  Giới hạn truy cập
About the Author38.72 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
4_SA3877_ESD TESTING_Preface.pdf
  Giới hạn truy cập
Preface40.71 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
5_SA3877_ESD TESTING_Acknowledgments.pdf
  Giới hạn truy cập
Acknowledgments40.38 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
6_SA3877_ESD TESTING_Chapter 1.pdf
  Giới hạn truy cập
Introduction363.86 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
7_SA3877_ESD TESTING_Chapter 2.pdf
  Giới hạn truy cập
Human Body Model1.07 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
8_SA3877_ESD TESTING_Chapter 3.pdf
  Giới hạn truy cập
Machine Model701.02 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
9_SA3877_ESD TESTING_Chapter 4.pdf
  Giới hạn truy cập
Charged Device Model (CDM)1.3 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
10_SA3877_ESD TESTING_Chapter 5.pdf
  Giới hạn truy cập
Transmission Line Pulse (TLP) Testing758.67 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
11_SA3877_ESD TESTING_Chapter 6.pdf
  Giới hạn truy cập
Very Fast Transmission Line Pulse (VF-TLP) Testing771.52 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
12_SA3877_ESD TESTING_Chapter 7.pdf
  Giới hạn truy cập
IEC 61000-4-2415.17 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
13_SA3877_ESD TESTING_Chapter 8.pdf
  Giới hạn truy cập
Human Metal Model (HMM)767.24 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
14_SA3877_ESD TESTING_Chapter 9.pdf
  Giới hạn truy cập
IEC 61000-4-5278.74 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
15_SA3877_ESD TESTING_Chapter 10.pdf
  Giới hạn truy cập
Cable Discharge Event (CDE)1.41 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
16_SA3877_ESD TESTING_Chapter 11.pdf
  Giới hạn truy cập
Latchup1.63 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
17_SA3877_ESD TESTING_Chapter 12.pdf
  Giới hạn truy cập
Electrical Overstress (EOS)710.09 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
18_SA3877_ESD TESTING_Chapter 13.pdf
  Giới hạn truy cập
Electromagnetic Compatibility (EMC)1.52 MBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
19_SA3877_ESD TESTING_Appendix A.pdf
  Giới hạn truy cập
Glossary of Terms49.64 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
19_SA3877_ESD TESTING_Appendix B.pdf
  Giới hạn truy cập
Standards39.28 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu
20_SA3877_ESD TESTING_Index.pdf
  Giới hạn truy cập
Index55.09 kBAdobe PDFXem/Tải về  Yêu cầu tài liệu


Khi sử dụng các tài liệu trong Thư viện số phải tuân thủ Luật bản quyền.